スキャンケルビンプローブ
走査ケルビンプローブは、導電性材料の仕事関数または半導体材料表面の表面電位、表面仕事関数をテストするための非接触、非破壊振動容量装置である。材料表面の最上部の1〜3層の原子または分子によって決定されるため、ケルビンプローブは非常に感度の高い表面分析技術である。KP Technology社は現在、1〜3 meV業界最高解像度のテストシステムを提供している。

主な特徴：
●仕事関数分解能<3 meV
●走査面積：5 mm to 300 mm（4種類の型番、型番ごとに走査面積が異なる）
●スキャン解像度：317.5 nm
●自動高さ調節
応用分野：
・有機及び非有機半導体
●金属
●フィルム
●太陽電池及び有機光起電力材料
●腐食
添付ファイルのアップグレード：
●大気光子放出システム
●表面光電圧（QTH or LED）
●SPS表面光電圧スペクトル（400〜1000 nm）
●金またはステンレスプローブ、直径0.05 mm to 20 mm
●相対湿度制御と窒素ガス環境タンク